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分辨率測(cè)試卡的定制與相關(guān)說(shuō)明

點(diǎn)擊：10800 日期：2015.02.19

【摘要】常見的分辨率測(cè)試卡有ISO12233分辨率測(cè)試卡、IEEE分辨率測(cè)試卡等，且有透射式和反射式兩種形式；測(cè)試卡可以定制任意比例（如4:3、16:9等）；測(cè)試卡可以定制各種大小。

一、下面是常見的幾種分辨率測(cè)試卡，這些測(cè)試卡都可以根據(jù)客戶的要求進(jìn)行尺寸和布局的修改和定制。

（一）反射式測(cè)試卡

（二）透射式測(cè)試卡

二、測(cè)試卡的定制還可以根據(jù)需求定制外框或者固定架、磁性背板等；也可以將一張測(cè)試卡切割成多個(gè)模塊，如下圖；

三、如果您無(wú)法確定選擇何種測(cè)試卡或者定制測(cè)試卡，可以直接與我們聯(lián)系。